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研究開發

研究開發

尋找新價值,研究開發全新技術與材料


微分析技術

為滿足半導體產業集成化與微小化相關日益嚴格的潔凈度要求,我們正在開發一種能夠進行多方面分析(包括無機和有機分析)的系統。


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3D CAD 設計

無縫進行基本結構分析和設計,從而加快產品設計和提案的速度。


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半導體和液晶制造設備的實驗室

公司擁有可反復承受高溫和低溫的熱循環測試設備,以便在半導體工廠嚴酷的工作條件下進行性能評估測試。

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用于故障預測的數據收集和分析測試設備

我們擁有用于收集和分析工作條件下壓力、溫度、扭矩、振動等數據(包括失效模式)的測試設備,目的是建立機械密封失效預測技術。


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閥門低溫測試設備

該測試設備用于收集低溫環境(-150 至 0°C)下閥門用壓蓋密封填料的密封、滑動和應力松弛性能數據。它用于開發適用于低溫環境的密封填料。


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1000 kN 萬能試驗機

該設備可對產品和材料進行密封、壓縮和拉伸測試,并可進行高精度負載控制;可24小時連續運行,并可獲得隨時間變化的連續數據。

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